Предназначен для количественного и качественного анализа поверхности твердых тел и изучения химической связи.

Спектрометр оборудован:

•  источниками рентгеновского излучения Al/Mg Kα, Ag Lα;
•  источником ультрафиолетового излучения He I/II.

Имеется возможность послойного анализа тонких  пленок с использованием послойного распыления

ионным пучком

ЛАБОРАТОРИЯ ФИЗИКОХИМИИ НАНОМАТЕРИАЛОВ №404, Зав. лабораторией д.ф.-м.н. Окотруб  А.В.