Институт ЦКП Элементный анализ Устройства для электротермического ввода проб в ИСП (ИСП-АЭС+ЭТИ) |
 |
|
P.S. Analytical 1 - стеклянная крышка, 2 – отверстие для транспорта паров пробы в ИСП, 3 – вход для загрузки пробы, 4 - держатели, 5 – проба, 6 - графитовая лодочка, 7 - силовые подводы, 8 – транспортирующий поток (Ar). |
«ВМК-Оптоэлектроника» 1 - трубка для транспорта пробы в ИСП, 2 - защитный поток (Ar), 3 - проба, 4 - графитовый стержень (крышка), 5 - графитовая кювета для ЭТА-ААС, 6 - кварцевая трубка, 7 - охлаждаемые держатели, 8 - транспортирующий поток (Ar). |
Температурная программа: 1- сушка (100С, 45 с); 2 - пауза (10 с); 3 - испарение аналитов (2400С, 10 с)
Установлено, что при выбранной программе нагрева в ИСП количественно поступают:
Ag, Al, Ba, Be, Bi, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Ga, In, Mg, Mn, Ni, P, Pb, Pd, Re, Sb, Se, Sn, Sr, Ti, V, Zn.
© ИНХ СО РАН 1998 – 2024 г.