Методы электронной (ЭМ) и атомно-силовой (АСМ) микроскопии

В ЦКП ИНХ имеются:

  1. Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с энергодисперсионным анализатором хим. состава JEOL JSM 6700F;
  2. Настольный сканирующий электронный микроскоп с энергодисперсионным анализатором хим. состава TM-3000;
  3. Атомно-силовой микроскоп Solver Pro.